カリキュラム

カリキュラムは、実験パッケージIPという製品ごとに用意されています。

実験パッケージIPは、CloudTesting™ Labのプラグインと実験テキストのセットです。 実験テキストは、実験の作業手順が記述されています。 先生は、これを元に実験手順書を作ることも、そのまま利用することも可能です。

トランジスタ&ダイオード測定パッケージIP

基本的な半導体デバイスである、ダイオードとトランジスタの特性を解析する実験授業を行えます。

実験項目

  • ダイオード順方向特性
  • ダイオード逆方向特性
  • トランジスタ静特性入力V-I特性
  • トランジスタ静特性出力V-I特性
  • トランジスタ静特性hfe
  • トランジスタ動特性(交流)

オペアンプ測定パッケージIP

オペアンプの特性を解析する実験授業を行えます。反転増幅回路などの、一般的なオペアンプ回路を取り上げます。

実験項目

  • 反転増幅回路
  • 非反転増幅回路
  • 加算回路
  • 微分回路
  • 積分回路

汎用ロジック測定パッケージIP

汎用ロジックLSIの諸特性を解析する実験授業を行えます。汎用ロジックLSIには、NANDゲート、半加算器、JKフリップフロップを使用します。

実験項目

  • NANDゲートの論理動作
  • NANDゲートの伝搬遅延時間測定
  • NANDゲートの出力波形解析
  • 半加算器の論理動作
  • 半加算器の伝搬遅延時間測定
  • JKフリップフロップの論理動作
  • JKフリップフロップの伝搬遅延時間測定

FET測定パッケージIP

FET(電界効果トランジスタ)の静特性、動特性を解析します。

実験項目

  • FET静特性入力V-I特性
  • FET静特性出力V-I特性
  • FET動特性(交流)

直流回路の基礎 パッケージIP

直流回路の基礎である、オームの法則、キルヒホッフの法則、ホイートストン・ブリッジについて理解します。

実験項目

  • 負帰還増幅回路の入出力特性
  • 負帰還増幅回路の周波数特性

テブナンの定理 パッケージIP

重ね合わせの理を理解し、テブナンの定理を理解します。また、テブナンの定理による等価回路の導出方法を学びます。

実験項目

  • 重ね合わせの理
  • テブナンの定理

CR回路の交流特性 測定パッケージIP

交流回路の基礎として、静電容量C、抵抗Rの基本特性を調べます。

実験項目

  • 各回路要素(C, R)の電圧と電流の関係
  • 回路要素 Cにおける、周波数Fとインピーダンスの大きさZの関係
  • CR直列回路における、端子電圧の大きさVC, VR、位相差ΘC, ΘRの周波数依存性

LR回路の交流特性 測定パッケージIP

交流回路の基礎として、自己インダクタンスL、抵抗Rの基本特性を調べます。

実験項目

  • 各回路要素(L, R)の電圧と電流の関係
  • 回路要素 Lにおける、周波数fとインピーダンスの大きさZの関係
  • LR直列回路における、端子電圧の大きさVL, VR、位相差θL, θRの周波数依存性

負帰還増幅回路測定パッケージIP

トランジスタ負帰還増幅回路の特性を解析します。

実験項目

  • 負帰還増幅回路の入出力特性
  • 負帰還増幅回路の周波数特性